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實驗室中的同步加速器性能 使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡,可實現低至50 nm的空間分辨率,是基于實驗室的X射線成像系統中*高的。 隨著非破壞性3D成像在
實驗室中的同步加速器性能
使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡,可實現低至50 nm的空間分辨率,是基于實驗室的X射線成像系統中*高的。 隨著非破壞性3D成像在當今的突破性研究中發揮至關重要的作用,您將在基于實驗室的超高分辨率系統中體驗的性能。 創新的Xradia Ultra架構采用吸收和相位對比成像模式以及8 keV的X射線能量,采用同步加速器改造的獨特光學元件。 使用Xradia 800 Ultra,期望獲得的原位和4D功能,用于研究材料隨時間的演變,并擴展材料科學,生命科學,自然資源和各種工業應用中使用的X射線成像的極限。
亮點
Xradia 800 Ultra的分辨率高達50 nm,可讓您深入了解以前無法通過傳統實驗室X射線技術獲得的微觀結構和工藝。 使用8 keV X射線進行操作可為各種材料提供出色的穿透力和對比度,使您能夠觀察其自然狀態下的結構和材料。
蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的內部3D信息,否則只能通過橫截面等破壞性方法訪問。 大工作距離和大氣樣本環境使您可以輕松地進行原位研究。
優勢